为了在疫情期间与大家交流MEMS测试案例与解决方案，Polytec计划开展线上交流会，具体信息如下：

会议时间：

2020年4月15日(周三)10：00-11：00

会议主题：

1. MEMS光学测试主要应用领域案例交流，包括惯性传感器三维测量、PMUTs指纹识别、SAW微流体操控等...

2. 最新的MEMS光学测试解决方案，包括超高频扫描测试、MEMS器件封装状态下的测试。

参加方式：

本次会议采用Go to meeting 在线会议的方式，网上报名后我们将发送会议链接，直接点击连接或者打电话参加。Go to meeting无需注册，可以选择下载软件或者直接使用Web版。

主讲人：

董 宁         Polytec技术经理

技术支持：
Chris Chia  Polytec总部专家

议程:

09:50： GoToMeeting 在线会议开始

10:00： MEMS应用介绍

10:25： MEMS光学测试解决方案介绍

10:50： 问答环节

11:00： 结束

在线注册地址：

点击此链接在线注册