TopMap Pro.Surf系列产品，基于白光干涉原理，以最前沿的CSI与Corelogram相结合的CST技术为核心，是一款极具特点的光学3D轮廓仪。TopMap Pro.Surf系列光学3D轮廓仪集非接触、大视场、纳米级精度和70mm超大扫描范围等技术特点于一身，能够满足从光滑到粗糙表面、从极深色、超低反射率到全反射表面等几乎所有表面轮廓的测量，此外还能够提供基于ISO25178/1101/4287/13565/21920/12781和ASME B46等标准的多种参数分析与评价，如粗糙度、平面度、台阶高度、平行度、波纹度等，广泛应用于汽车工业、燃油喷射系统、传动、密封、光学加工、精密半导体及3C行业和航天、航空、国防军工和科研院所等领域。

典型应用：

• 半导体：衬底、外延片平坦度和形貌测量，精密器件及传感器

• 汽车行业：空气悬挂组件，精密传动组件，燃油喷射系统，高压油泵

• 密封行业：精密密封表面、泵阀类密封组件

• 表面工程：摩擦学，涂层厚度，形变分析

• 3C电子：电子元件平整度，引脚位置，屏幕平面度、厚度均匀性，印刷电路

• 手表：组件平面度、台阶高度、平行度、轮廓，表镜