三维表面测量展示涂层厚度和缺陷,突出毫米级台阶与局部瑕疵分析,适用于涂层质量控制
专业知识

层厚

保持涂层厚度恒定,以最大限度地降低质量成本

表面计量学中,透明表面和涂层的材料厚度对其装配精度和功能都至关重要。若要实现高质量和低废品率,就必须在生产过程中通过测量来检测涂层厚度,并始终将其维持在完全一致的水平。如果您的工作涉及对透明样品的厚度进行面分析,或检测表面缺陷,那么Polytec的TopMap 系列产品正是您的理想之选。

对于大多数涂层工艺而言,关键在于以受控且预定的厚度进行涂覆。涂层技术包括复合涂层、纳米涂层和超薄膜、沉积(等离子体和离子真空沉积)、外延薄膜生长、溅射技术、浸涂、流涂和旋涂、喷涂、刷涂和辊涂、电镀和无电镀,以及表面改性。

控制涂层厚度及整个涂覆工艺

划痕试验是一种常用的附着力测试方法,适用于薄、硬且附着力良好的涂层,例如钢或硬质合金基材上的TiC(碳化钛)涂层。对于非透明材料,也可通过测量涂层边缘或划痕的台阶高度来测定涂层厚度。在透明涂层上,无论位于何处,均可检测到从几微米起始的层厚。

涂层和金属化过程中出现的各种表面缺陷均可进行测量、定性分析并归类,包括气孔、条纹、抖动痕迹、液滴、斑点、凹坑、孔洞、划痕、涂层紊乱、污染物、橘皮纹以及视觉纹理外观。 缺陷可被快速可视化、测量,并利用相关信息帮助查明其原因,从而能够迅速实施工艺整改、优化并进行监控,以体现最终涂层表面质量控制的改进。可通过测量和评估涂层上的缺陷来帮助查明原因。

例如,Polytec的表面测量系统被用于在生产过程中检查并维持手机显示屏的涂层厚度。

涂层厚度75.2nm的光学面内阶梯边缘测试,显示10μm宽、2μm深缺陷,适用于表面缺陷检测与厚度控制。
显示涂层厚度为75.2 nm的光学和面内阶梯边缘测试
涂层表面面光学测量显示多个宽度约10μm、深度2μm的微小缺陷,适用于高精度涂层检测。
对涂层进行面光学测量,揭示出宽度为10 μm、深度为2 μm的缺陷
划痕测试法测量涂层厚度,显示黄色涂层表面及蓝色划痕槽深度,适用于涂层质量检测与缺陷分析。
采用划痕测试法测量涂层厚度以检测涂层表面

欢迎与我们的专家探讨您的需求

让我们先简要讨论您的零件、公差要求与工作流程——如果您认为有帮助,后续可选择性地追加可行性研究、PolyMeasure合约测量服务或PolyRent试用方案作为后续步骤。

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